Reklama: Chcesz umieścić tutaj reklamę? Zapraszamy do kontaktu »
Faulhaber robotic
Powrót do listy artykułów INFORMACJA ARCHIWALNA
Aktualizowany: 2014-03-18
FLIR Bench Test Thermal Kits

Pakiety badawcze FLIR

Kamery termowizyjne - promocyjne pakiety badawcze FLIR

Firma FLIR Systems - światowy lider w projektowaniu, wytwarzaniu oraz sprzedaży kamer termowizyjnych, przedstawia nową promocje – pakiety badawcze FLIR Bench Test Thermal Kits. Są to kompletne zestawy pomiarowe w skład których wchodzi kamera termowizyjna, optyka oraz oprogramowanie. Zestawy znajdują zastosowanie w pracach badawczo rozwojowych, w laboratoriach przemysłowych, w edukacji oraz przy projektowaniu płyt PCB oraz urządzeń automatyki przemysłowej.

Niewłaściwie zmierzona temperatura może prowadzić do kosztownych przeróbek, poprawek lub awarii. Pakiety Badawcze FLIR to innowacyjne i ekonomicznie atrakcyjne rozwiązanie do pomiarów temperatury. W porównaniu do termopar i ich plączących się przewodów, pirometrów i ich dyskusyjnych wyników kamery termowizyjne FLIR pozwalają na efektywną pracę oraz uzyskanie wiarygodnych wyników pomiarów.

Zamocowanie termopary we właściwym miejscu jest wymagającym zadaniem. Złe umieszczenie czujnika może skutkować błędnymi wynikami pomiarów. Pirometry również nie są zbyt efektywnym narzędziem do pomiarów temperatury. Podobnie jak termopary, mierzą temperaturę w danym czasie tylko w jednym punkcie. Co gorsza, pomiar przy pomocy pirometru jest uśrednieniem temperatury na pewnej powierzchni, im dalej od badanego obiektu się znajdujemy, tym otrzymujemy większą niedokładność pomiaru.

Kamery termowizyjne z zestawów Pakietów Badawczych FLIR pozwalają na uzyskanie na każdym termogramie tysiące punktów pomiarowych w czasie sekundy. W połączeniu z obiektywami oraz zaawansowanym oprogramowaniem do prac przemysłowych i badawczo-rozwojowych, FLIR oferuje najbardziej niezawodne rozwiązanie, które pozwala uzyskać właściwy obraz we właściwym czasie.

Kompletne zestawy pomiarowe:

Pakiet FLIR Axsc Bench Test Thermal Kits

Kamera A5sc, A15sc lub A35sc.Optyka 44° z ręczną regulacją ostrości dla A5sc lub 48° dla A35sc oraz A15sc.Oprogramowanie ResearchIR umożliwiające akwizycję sekwencji oraz analizę danych.Adapter do statywu.

Pakiet FLIR E40 Bench Test Thermal Kits

Kamera FLIR E40 (19200 punktów pomiarowych).Obiektyw 25°, ręczna regulacja ostrości.Oprogramowanie ResearchIR umożliwiające akwizycję sekwencji oraz analizę danych.Adapter do statywu.Opcjonalnie: obiektyw 45°

Pakiet FLIR T420 Bench Test Thermal Kits

Kamera FLIR T420 (76800 punktów pomiarowych).Obiektyw 25°, ręczna i automatyczna regulacja ostrości.Oprogramowanie ResearchIR umożliwiające akwizycję sekwencji oraz analizę danych.Adapter do statywu.Opcjonalnie: obiektyw 45°, obiektyw close-up 2x (50µm) lub close-up 4x (100µm)

Oprogramowanie badawczo-rozwojowe - narzędzie do rozwiazywania problemów

Oprogramowanie FLIR ResearchIR zostało stworzone z myślą o użytkownikach działów R&D korzystających z kamer chłodzonych oraz niechłodzonych. FLIR ResearchIR wykorzystuje wszystkie możliwości kamer termowizyjnych, pozwala na szybkie rejestracje oraz zaawansowane analizy ścieżek termicznych. Jest to idealne narzędzie dla przemysłu oraz laboratoriów badawczo-rozwojowych.

Właściwości oprogramowania FLIR ResearchIR

Dostępne w ponad 20 językach.Podgląd, rejestracja oraz zapis danych z dużą szybkością.Obróbka zjawisk szybkozmiennych.Tworzenie wykresów zmiany temperatury w czasie rzeczywistym oraz z zarejestrowanej sekwencji.Zaawansowane wyzwalanie i zatrzymywanie rejestracji.Nieograniczona liczba narzędzi pomiarowych (punkt, linia, obszar).Organizacja plików w kolekcje oraz podglądem sekwencji.Powiększanie i przesuwanie obrazów.Konfigurowalne profile użytkownika.

Aby dowiedzieć się więcej o promocyjnych Pakietach Badawczych FLIR skontaktuj się z przedstawicielami naszej firmy:

http://www.ects.pl/pliki/uploader/Download/T820579_PL_HR2_2.pdf

EC Test Systems Sp. z o.o.

ul. Lublańska 34, 31-476 Kraków

tel. +48 12 627 77 77

kom. +48 664 192 081

e-mail: biuro@ects.pl

www.ects.pl

Autor:
Jarosław Knapek, Katarzyna Małysa-Gajek
Źródło:
http://www.ects.pl/pliki/uploader/Download/T820579_PL_HR2_2.pdf
Dodał:
EC TEST Systems Sp. z o.o.