Najszybszy zestaw testujący - Wireless LAN

Nowe oprogramowanie pomiarowe WLAN dla LabVIEW i przyrządy PXI RF definiowane programowo firmy National Instruments umożliwiają szybkie i elastyczne pomiary

Firma National Instruments ogłosiła dzisiaj wprowadzenie nowego urządzenia testującego WLAN (Wireless Local Area Network). Może ono generować i analizować sygnały RF 4 razy szybciej niż inne rozwiązania modułowe i aż do 10 razy szybciej niż tradycyjne instrumenty. Nowe rozwiązanie testowe łączy oprogramowanie NI WLAN Measurement Suite dla National Instruments LabVIEW oraz LabWindows™/CVI ze sprzętem NI 6.6 GHz PXI Express RF. Ma to na celu osiągnięcie wyższej prędkości i elastyczności przy testowaniu standardów IEEE 802.11 a/b/g. Konfigurowanie sprzętu pomiarowego służącego do przeprowadzania testów ponad sześciu innych standardów komunikacyjnych RF (łącznie z GPS, WiMAX, Bluetooth i RFID) ułatwia inżynierom fakt, że powyższe rozwiązanie jest oparte na oprogramowaniu.

WLAN Measurement Suite oferuje najlepszą w całej branży wydajność i elastyczność pomiarów dzięki architekturze opartej na oprogramowaniu. Stosowanie tego typu przyrządów, składających się z modułowego sprzętu i oprogramowania dopasowanego do potrzeb klienta, umożliwia inżynierom korzystanie z najnowszych technologii, takich jak przetwarzanie wielordzeniowe, programowanie równoległe oraz platformy PXI Express RF 6.6GHz, w celu skrócenia minimalnych czasów niezbędnych do przeprowadzenia pomiarów. Ponadto, dzięki łatwości programowania równoległego w LabVIEW, czasy pomiarów RF oparte na PXI dalej będą się skracać, wraz z każdym postępem dokonywanym w zakresie wielordzeniowych CPU. Umożliwi to dalszą maksymalizację efektywności pomiarów, przedłużenie trwałości systemu i zredukowanie koniecznych do poniesienia kosztów. Ponieważ oprzyrządowanie to zostało oparte na oprogramowaniu, inżynierowie mogą bez problemu dostosowywać do swoich potrzeb pomiary RF przeprowadzane dla urządzeń wielostandardowych, takich jak układy scalone SOC (systems on a chip), telefony komórkowe i radia, przy zastosowaniu tego samego oprzyrządowania.

Nowe rozwiązanie testowe WLAN obejmuje wektorowy analizator sygnału NI PXIe-5663 6.6 GHz RF, generator sygnałów wektorowych NI PXIe-5673 6.6 GHz, 18-slotową, szybką obudowę NI PXIe-1075 oraz dwurdzeniowy sterownik NI PXIe-8106. Urządzenie NI PXIe-5663 może analizować sygnały w zakresie od 10MHz do 6,6 GHz przy szerokości pasma do 50 MHz, podczas gdy NI PXIe-5673 generuje sygnały na nośnych od 85 MHz do 6,6 GHz przy szerokości pasma do 100 MHz. Obudowa NI PXIe-1075 zapewnia szerokość pasma do 1 GB/s na slot i całkowitą przepustowość magistrali systemu do 4 GB/s. Ten światowej klasy system pomiarowy posiada bardzo niski błąd pomiaru EVM (error vector magnitude) , wynoszące zaledwie -44 dB. Dzięki temu inżynierowie mogą wykorzystywać ten sam system pomiarowy zarówno w pracach badawczych i projektowych, w których dokładność pomiarowa ma kluczowe znaczenie, jak również na liniach produkcyjnych, gdy kluczowe znaczenie ma prędkość pomiaru.

Zachęcamy do odwiedzenia strony www.ni.com/automatedtest/wlan, gdzie będą Państwo mogli zapoznać się z nowym WLAN Measurement Suite.


National Instruments Poland Sp. z o.o.
Salzburg Center
ul. Grójecka 5
02-025 Warszawa
Tel: +48 22 328 90 10
Fax: +48 22 331 96 40
E-mail: ni.poland@ni.com
www.ni.com/poland

Infolinia: 00800 361 1235