Automated Test Summit 07 - Konferencja na temat zautomatyzowanych systemów testujących

National Instruments ma zaszczyt zaprosić Państwa na całodniową konferencję dotyczącą zautomatyzowanych systemów testujących. Podczas konferencji przekażemy informacje na temat najnowocześniejszych technik w zakresie testów na etapie projektowania oraz produkcji, na temat najlepszych praktyk i sprawdzonych strategii w projektowaniu elastycznych oraz wydajnych systemów testujących.

Spotkacie się Państwo z kolegami i ekspertami, zobaczycie prezentacje oraz opisy rozwiązań firmy National Instruments a także naszych partnerów. Podczas konferencji zaprezentujemy wpływ najnowszych technologii, takich jak: procesory wielordzeniowe, magistrale LAN/LXI, PXI i PXI Express, USB. Zachęcamy do zapoznania się z agendą na naszej stronie (www.ni.com/poland).

Uczestnicy konferencji na temat zautomatyzowanych systemów testujących dowiedzą się jak:
• Wykorzystać dotychczasowe inwestycje w systemy testowania zwiększając ich wydajność i elastyczność.
• Zwiększyć szybkość tworzenia aplikacji testujących dzięki nowym narzędziom.
• Wykorzystać strategie testujące zaimplementowane przez wiodących integratorów i producentów.

Więcej informacji znajdą Państwo na naszej stronie (www.ni.com/poland).