National Instruments prezentuje digitizer i generator arbitralny 200 MS/s

Nowe moduły podwajają szybkość próbkowania i wielkość pamięci modułowych instrumentów firmy National Instruments

17 sierpień 2004 – National Instruments zaprezentowało dziś dwa 200 MS/s modułowe instrumenty, które rozszerzają możliwości pomiarowe różnych sygnałów. Nowe moduły oparte są na Synchronization and Memory Core (SMC), podwajającym dostępną szybkość próbkowania i wielkość pamięci w digitizerach i generatorach arbitralnych firmy National Instruments. W połączeniu precyzyjnych DC, RF i szybkich cyfrowych przyrządów PXI firmy National Instruments, nowe moduły są idealne dla różnych aplikacji od elektroniki konsumenckiej, półprzewodników, wojska, lotnictwa po badania naukowe.

Deepak Murji (Starszy Inżynier ds. Testów w Baxall Ltd.) powiedział, że „ze zwiększeniem wydajności produkcji i wymaganej precyzji, wybraliśmy modułowe instrumenty firmy National Instruments razem z oprogramowaniem MicroLEX Systems VideoMASTER do testowania i kalibrowania naszych kamer. Opierając się na szczegółowej ocenie i porównaniu do tradycyjnych metod testowych, mogliśmy otrzymać o ponad 25 procent większą przepustowość i lepszą kalibrację naszych produktów przy zwiększonej dokładności.”

Dwukanałowy 12-bitowy digitizer NI PXI-5124 oraz 16-bitowy generator arbitralny NI PXI-5422 używają najnowszych komercyjnych elementów półprzewodnikowych, rozszerzając architekturę SMC, poprzez zwiększenie częstotliwości próbkowania do 200 MS/s i wielkości pamięci do 512 MB na kanał. Nowe karty przynoszą korzyści modułowym instrumentom National Instruments, zwiększając ich zastosowanie do jeszcze szerszego zestawu aplikacji, dzięki dostarczeniu dokładności na światowym poziomie, elastyczności i ścisłej integracji różnych sygnałów I/O. Digitizer PXI-5124 oferuje zakres dynamiczny SFDR na poziomie 75 dBc i 150 MHz pasmo, podczas gdy generator arbitralny PXI-5422 zapewnia mniej niż 6 procentowe odchylenie impulsu i czas narastania rzędu 1,8 ns.

Inżynierowie testujący i projektujący mogą użyć nowego digitizera i generatora arbitralnego do szybkiego budowania systemów typu stymulacja/pomiar odpowiedzi, w dowolnym momencie procesu produkcji, używając nowego interaktywnego oprogramowania pomiarowego NI SignalExpress równie dobrze, jak LabVIEW 7.1 i oprogramowania do zarządzania testami NI TestStand. Z technologią Express dostępną w każdym z tych pakietów oprogramowania, inżynierowie mogą interaktywnie konfigurować digitizer i generator arbitralny z małą ilością elementów programowania, oferując znacznie szybsze przygotowanie systemu. Inżynierowie mogą modyfikować swoje systemy pomiarowe przy użyciu ponad 400 funkcji pomiarowych i analitycznych, m.in. pomiary spektralne oraz analogowa i cyfrowa modulacja dostępna w LabVIEW 7.1.

Wszystkie instrumenty modułowe dla różnych sygnałów są zbudowane na wspólnej architekturze SMC, więc są one ściśle zsynchronizowane z innymi instrumentami opartymi na SMC takimi, jak 100 MHz generator/analizator sygnału . NI PXI-6552. Z rozbieżnością między modułami rzędu 20 ps rms, synchronizacja SMC czyni możliwe wydajne pomiary różnych sygnałów lub wielokanałowe zliczanie. Dodatkowo, obydwa moduły mogą zaimportować zewnętrzne zegary, zegary referencyjne oraz wyzwalanie z panelu zewnętrznego lub magistrali PXI.

Modułowe instrumenty National Instruments
Modułowe instrumenty firmy National Instruments są kombinacją wydajnego sprzętu, elastycznego oprogramowania i innowacyjnej technologii taktowania i synchronizacji dla aplikacji testowych i pomiarowych. Modułowe instrumenty National Instruments oferują:
· Digitizery o dużej rozdzielczości (od 8 do 14 bitów, do 200 MS/s)
· Generatory sygnałów (do 16 bitów, 200 MS/s)
· Cyfrowe generatory/analizatory (do 100 MHz)
· Cyfrowe multimetry (do 6½ cyfry)
· Wektorowy generator i analizator RF (do 2,7 GHz)
· Analizator sygnałów dynamicznych (do 24 bitów, 204,8 kS/s)
· Przełączniki (multipleksery, matryce i ogólnego przeznaczenia)