Wizja National Instruments

Wizja National Instruments

Podczas tegorocznego NI Week , National Instruments podsumowało najważniejsze osiągnięcia w dziedzinie porównywania wzorców i algorytmów śledzenia obiektów.

Podczas gdy, firma oferuje już techniki korelacji krzyżowej NCC oraz geometryczne techniki dopasowywania modeli do wzorców, nowy pakiet oprogramowania NI VISION posiada dwa dodatkowe rodzaje algorytmów NCC.

W standardowych algorytmach tego typu wykorzystywany jest szablon wzorca oraz korelacja warunkująca stopień dopasowania obserwowanego obiektu. Zamiast korzystać z wszystkich pikseli w strukturze, istniejący wzór można opisać przez małą próbkę w skali szarości, bądź będącą wynikiem realizacji funkcji brzegowych. Takie algorytmy są bardzo szybkie i w związku z przetwarzaniem mniejszej ilości danych bardziej efektywne. Niestety, ich zastosowanie jest ograniczone do małych wzorców oraz dość jednorodnych obrazów.

Aby przezwyciężyć te ograniczenia, techniki NCC zaprzęgły do pracy przetwarzanie piramidowe. Pozwala ono na przetwarzanie wielo-skalowej reprezentacji obrazu docelowego z wykorzystaniem filtru dolnoprzepustowego oraz malejącego próbkowania.

Dzięki zastosowaniu takiego podejścia dopasowanie obrazu o dużej ilości szczegółów jest osiągane w krótkim czasie, a ponadto jest odporne na zakłócenia.

National Instruments ciągle rozwija pakiet swojego oprogramowania do przetwarzania obrazu. Dzięki coraz bardziej zaawansowanym i precyzyjnym algorytmom napędza ono przemysł i pomaga zwiększać jakość i wydajność nowoprojektowanych linii produkcyjnych.

(rr)