Zakończyły się NI Days w Polsce

W dniach 25 listopada i 2 grudnia 2003 roku w Warszawie i Katowicach odbyły się dwie konferencje National Instruments. Nieodpłatne spotkania o nazwie "NI Days", w Polsce zgromadziły około 200 osób.

Konferencje miały formę całodniowych sesji, na których przedstawiono technologie oferowane przez National Instruments. Oprócz samego oprogramowania i sprzętu wykorzystującego najnowsze rozwiązania NI, zaprezentowane zostały aplikacje integratorów systemów wykonane z ich użyciem.

Pierwsza sesja dotyczyła nowych produktów firmy National Instruments. Zaprezentowane zostały filmy pochodzące z NI WEEK, corocznej imprezy organizowanej w Austin. Jeden z nich dotyczył układu sterowania silnikiem stworzonego w oparciu o moduł FPGA. Interfejs użytkownika aplikacji umieszczony został na Palmie. Następny film prezentował rozwiązania NI w zakresie współpracy z inteligentnymi czujnikami.

Kolejna sesja dotyczyła programowania w LabVIEW FPGA. Wraz z LabVIEW w wersji 7 pojawil sie moduł FPGA, przy pomocy którego można oprogramować kartę PXI 7831R, zawierającą układ FPGA, układy szesnastobitowych przetworników analogowo/cyfrowych, szesnastobitowych przetworników cyfrowo/analogowych oraz linie cyfrowe. Zaprezentowane zostały zastosowania PXI 7831R w aplikacjach symulacji urządzeń czy też implementacji złożonych protokołów wdrożone przez naszych klientów.

Dwie kolejne sesje dotyczyły modułów rozproszonego wejścia wyjścia Compact FieldPoint. Pokazana została współpraca sterowników z LabVIEW, LabVIEW Real Time oraz LabVIEW DSC. Dzięki różnym narzędziom udalo nam się pokazać aplikacje sterujące modułami z poziomu środowisk Windows, Real Time. Przy pomocy modułu HMI LabVIEW DSC przykładową aplikacje wizualizacji procesu kontrolno pomiarowego. Kolejne sesja dotyczyła środowiska TestStand, przy pomocy którego można tworzyć aplikacje testujące. Srodowisko to jest wykorzystywane przez czołowych producentów elektroniki do opracowywania testów na etapie badań i produkcji.

Ostatnia sesja dotyczyła środowiska DiaDEM, służącego do analizy danych. Środowisko to pozwala na interaktywne stworzenie aplikacji przetwarzania, prezentacji i raportowania wyników pomiarów. Wykorzystywane jest min. przez przemysł samochodowy do oceny wyników badań zderzeniowych aut, z uwagi na możliwość synchronizacji obrazu video z danymi pomiarowymi.

Cykl konferencji NI Days 2003-2004, ma być sposobem na zapoznanie jak najszerszej grupy specjalistów z rozwiązaniami jakie firma National Instruments stara się rozwijać od 25 lat. Są to technologie sieciowe, najnowsze oprogramowanie i sprzęt, oraz innowacje technologiczne. Spotkania adresowane są do inżynierów, naukowców, integratorów systemów, konsultantów, producentów aparatury, profesorów i wykładowców. Podobne spotkania będą się odbywać w ponad 60 miejscach na całym świecie - do wiosny 2004 roku.