Nowa technologia podczerwonej sensoryki do kontrolowania jakości

Nowa technologia podczerwonej sensoryki do kontrolowania jakości

Honeywell International zaprezentował nową technologię podczerwonej sensoryki, stworzoną z myślą o wytwórcach opakowań, by pomóc im zmniejszyć liczbę uszkodzonych produktów powlekanych oraz ilość zużytych surowców. Spektrometr odbicia w podczerwieni (RIS) wykorzystuje układ detektorów, zapewniających najwyższą na rynku rozdzielczość oraz najszerszy zakres podczerwieni, które gwarantują najwyższą jakość poprzez mierzenie wielu elementów powłok, nawet tych znajdujących się na podłożach zadrukowanych czy odbijających.

RIS może być wykorzystywany w systemach kontroli jakości, jak Honeywell MXProLine, który przy pomocy układu skanerów i czujników monitoruje jakość produktów powlekanych, jak choćby opakowania na płyny czy aseptyczne. Całe rozwiązanie pomaga producentom precyzyjniej mierzyć i kontrolować powłoki wielowarstwowe czy ochronne, a także łączenia. Pozwala ono zredukować ilość defektów nawet o 15 procent, a zużycie surowców nawet o 8 procent. Dodatkowo, narzędzia kalibrujące pozwalają zaoszczędzić nawet 40 procent czasu przeznaczanego na kalibrację.

„Podobnie jak większość producentów, wytwórcy opakowań zmagają się nie tylko z coraz większymi wymaganiami stawianymi produktom, ale również i koniecznością obniżania kosztów produkcji przy równoczesnym zwiększaniu produktywności.” – stwierdził Jack Ross z Honeywell. „Spektrometr odbicia w podczerwieni zbliża producentów do tego celu będąc przykładem stosowania zaawansowanych technologii cyfrowego przetwarzania sygnału, która poprawia precyzję, rozdzielczość oraz elastyczność.” – dodał.

Wśród cech charakterystycznych RIS wymienić należy przyjazne użytkownikowi sieciowe graficzne narzędzia kalibracyjne, które pozwalają zaoszczędzić znaczną ilość czasu przeznaczanego na kalibrację.

Dodatkowo, RIS dysponuje wewnętrzną optyką, która optymalizuje skupianie wiązki oraz automatyczną standaryzacją, która koryguje wszelkie odchylenia zarówno spektrum źródłowego, jak i odpowiedzi detektora.

(lk)